FT-700A催化剂颗粒抗压测试仪 符合ASTM D4179,测定各种固体颗粒,如球状、挤出状、和片状的,催化剂及催化剂载体、药片等的抗压碎强度。 50-100g样品,在300℃烘箱中干燥2小时,在干燥... ...
FT-700B催化剂堆积抗压测试仪 同一操作者在同一仪器上测量的可重复性不会超过平均值的±5%。测量时间大约1个小时。 包装尺寸58×50×52cm,毛重35kg。 催化剂样品在烘箱内干燥1小时... ...
FT-803多功能颗粒强度测试仪 七、 满足标准: 符合ASTM D4179,测定各种固体颗粒,如球状、挤出状、和片状的,催化剂及催化剂载体、药片、饲料、药品、化肥,分子筛,谷物类、碳酸钡、氧化锌... ...
FT-5100粉体接触角测试仪 一、概述: 粉体接触角测量仪采用渗透法来测量液体在压实粉体柱中的渗透速度,进而较为准确地测试出该液体对固体粉末的润湿性质,即粉体接触角。仪器程序设定后可... ...
FT-700A催化剂颗粒抗压测试仪 符合ASTM D4179,测定各种固体颗粒,如球状、挤出状、和片状的,催化剂及催化剂载体、药片等的抗压碎强度。 50-100g样品,在300℃烘箱中干燥2小时,在干燥... ...
FT-700A催化剂颗粒抗压测试仪 符合ASTM D4179,测定各种固体颗粒,如球状、挤出状、和片状的,催化剂及催化剂载体、药片等的抗压碎强度。 50-100g样品,在300℃烘箱中干燥2小时,在干燥... ...
FT-700A催化剂颗粒抗压测试仪 符合ASTM D4179,测定各种固体颗粒,如球状、挤出状、和片状的,催化剂及催化剂载体、药片等的抗压碎强度。 50-100g样品,在300℃烘箱中干燥2小时,在干燥... ...
FT-803多功能颗粒强度测试仪 七、 满足标准: 符合ASTM D4179,测定各种固体颗粒,如球状、挤出状、和片状的,催化剂及催化剂载体、药片、饲料、药品、化肥,分子筛,谷物类、碳酸钡、氧化锌... ...
仪 FT-104B2粉末和颗粒休止角测试仪 一、定义:休止角是指粉体堆积层的自由斜面在静止的平衡状态下,与水平面所形成的角 二、工作原理:休止角常用的方法是固定圆锥法(亦称残留圆锥... ...
FT-102D粉体性状测定仪 一、功能介绍: 来自瑞柯公司具有自主知识产权,粉体表征测量解决方案,通过高自动化测量技术,智能化测量系统,采用集成电路系统模块;触摸屏操作模式:测试过... ...
广泛用于:覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电... ...
本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,... ...
五、 概述: 参照硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》... ...
一、 概述: 参照硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》... ...
一、 概述: 参照硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》... ...
一、概述:本品为解决四探针法测试金属涂层复合材料超低阻材料方阻及电阻率,小可以测试到1uΩ方阻值,是目前同行业中能测量到的小值,采用高AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量... ...
四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率,小可以测试到1uΩ方阻值,是目前同行业中能测量到的小值,采用高AD芯片控制,恒流输出; 适用于铝粉、铝材、铜粉、铜材、石墨类产品涂层性质... ...
FT-331A四探针法粉末电导率测试仪/四探针法粉末电阻率测试仪一、满足标准:1)四探针测试仪满足GB/T 1551、GB/T1552-1995,ASTM F84美国A.S.T.M 标准。2)四探针法粉末测试平台依据GBT 30835-2014《锂离子电池用... ...